[发明专利]一种X射线衍射全谱多峰拟合模式的多晶材料残余应力测量方法在审
| 申请号： | 202011596141.6 | 申请日： | 2020-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN112729647A | 公开（公告）日： | 2021-04-30 |
| 发明（设计）人： | 汪选国;汪研;张林海;方海英;万才明;许建艳;吴芳 | 申请（专利权）人： | 宁波经略海洋科技有限公司 |
| 主分类号： | G01L5/00 | 分类号： | G01L5/00;G01N23/2055 |
| 代理公司： | 上海邦德专利代理事务所(普通合伙) 31312 | 代理人： | 梁剑 |
| 地址： | 315048 浙江省宁波市高新区聚*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提出一种X射线衍射全谱多峰拟合模式的多晶材料残余应力测量方法，利用材料的一张X射线衍射全谱谱线，采用多峰拟合模式，考虑了多晶体晶粒取向的基础上，获得多晶体材料平面应变，在此基础上结合多晶体材料应力应变关系，最终计算出多晶体材料残余应力值。本发明在计算材料应变过程中采用多个衍射峰信息，考虑了多晶体材料晶粒取向，避免了由于多晶体材料的择优取向对传统X射线衍射应力分析方法的影响，为多晶体材料残余应力测量提供了一种方便快捷的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 衍射 全谱多峰 拟合 模式 多晶 材料 残余 应力 测量方法 | ||
【主权项】：
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