[发明专利]缺陷检测系统及方法、装置、设备和存储介质有效
| 申请号： | 202011602352.6 | 申请日： | 2020-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN112748120B | 公开（公告）日： | 2023-03-14 |
| 发明（设计）人： | 林义闽;龚向锋;廉士国 | 申请（专利权）人： | 中国联合网络通信集团有限公司;联通大数据有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 张娜;黄健 |
| 地址： | 100033 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供一种缺陷检测系统及方法、装置、设备和存储介质。缺陷检测系统包括多个光源、多个工业相机和数据处理终端，光源和工业相机的设置位置相平行。光源用于为待检测物提供光照，光源中第一光源和第二光源设置于待检测物上表面，第三光源设置于待检测物下表面，第一光源和第二光源之间呈预设角度。工业相机拍摄对应光照区域的待检测物得到待检测图像。数据处理终端根据待检测图像确定缺陷检测结果。第一光源和第二光源之间呈预设角度能够形成交叉光源，可以保证不同类型的缺陷都能成像，使得存在的缺陷都被拍摄得到，避免了漏检，保证了检测效果。基于计算机视觉技术对缺陷进行检测，提高了检测效率，有利于自动化生产工艺要求。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 系统 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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