[发明专利]一种用于LCD逻辑板基板的耐压强度探测装置及方法有效

专利信息
申请号: 202011608256.2 申请日: 2020-12-29
公开(公告)号: CN112697591B 公开(公告)日: 2021-08-31
发明(设计)人: 杨露;郑惠杰;梁伟坚 申请(专利权)人: 深圳市韦德勋光电科技有限公司
主分类号: G01N3/08 分类号: G01N3/08;G01N3/02;G01N3/04
代理公司: 深圳峰诚志合知识产权代理有限公司 44525 代理人: 李明香
地址: 518000 广东省深圳市宝安区福海*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及LCD逻辑板技术领域,且公开了一种用于LCD逻辑板基板的耐压强度探测装置,通过第一圆盘、第二圆盘、推杆和夹板的配合使用,使得在进行逻辑板基板耐压探测时,可以自动进行夹持,且完成探测后自动松开,从而保证基板的探测时的稳定性,从而提高试验结果的准确性,通过负压室、活塞、回收仓和回收通道的配合使用,使得在完成耐压探测后,自动产生负压,将耐压探测过程中产生的碎屑自动进行回收,更加的省时省力,提高耐压探测实验的工作效率,通过第二圆盘、第一转盘和第二转盘的配合使用,使得在进行耐压探测时,将自动夹持和碎屑的自动回收两个步骤进行联动,从而增加整个装置的联动性,使得操作更加的简单。
搜索关键词: 一种 用于 lcd 逻辑 板基板 耐压 强度 探测 装置 方法
【主权项】:
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