[发明专利]一种测量磁性纳米线自旋塞贝克系数的方法

摘要

本发明公开了一种测量磁性纳米线自旋塞贝克系数的方法，包括以下步骤：将磁性纳米线置于电阻加热平台之上，分别测量得到铂电极Pt1与Pt2的温度电阻系数；用飞秒激光或者皮秒激光聚焦在铂，Pt1或者Pt2电极表面，测量铂电极Pt1和Pt2的电阻，由测得的Pt1与Pt2温度电阻系数，计算得到铂电极Pt1和Pt2的温度，并计算得到Pt1和Pt2之间的温度差ΔT；通过改变施加在磁性纳米线上的磁场，测量得到磁性纳米线上磁性薄膜磁矩在反平行态(AP)和平行态时(P)的电势，计算得到磁性纳米线的自旋塞贝克系数。本发明的测量手段更加简单快捷，产生的温度梯度更加大，并且避免了其他次生效应的产生，测量更加准确。