[发明专利]一种用于耦合腔加速结构的端耦合腔测量装置及端耦合腔测量方法有效
| 申请号： | 202011616416.8 | 申请日： | 2020-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN112798873B | 公开（公告）日： | 2022-10-28 |
| 发明（设计）人： | 杨京鹤;杨誉 | 申请（专利权）人： | 中国原子能科学研究院 |
| 主分类号： | G01R27/28 | 分类号： | G01R27/28;G01R23/02 |
| 代理公司： | 北京市创世宏景专利商标代理有限责任公司 11493 | 代理人： | 王鹏鑫 |
| 地址： | 102413 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于耦合腔加速结构的端耦合腔测量装置，包括测量部和网络分析仪。其中，所述测量部包括主体、耦合环和同轴线。所述主体设有穿孔；所述耦合环设置在所述穿孔中；所述同轴线的一端穿设在所述穿孔中，并与所述耦合环连接；所述同轴线的另一端延伸至所述主体并与所述网络分析仪连接。本发明的技术方案通过将端耦合腔测量装置的主体置于桥式耦合器的中心腔体与端耦合腔之间的连接槽口中并令耦合环一侧位于端耦合腔，调节网络分析仪的参数测量单端口反射系数S11，即可简单、快速地、准确地获取端耦合腔的测试结果，进而通过测量结果修正端耦合腔的尺寸直至达到指标要求，能够有效降低机械加工量和调谐工作量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 耦合 加速 结构 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
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