[发明专利]FTIR分析仪在审

专利信息
申请号: 202011616667.6 申请日: 2020-12-31
公开(公告)号: CN112834452A 公开(公告)日: 2021-05-25
发明(设计)人: 陈群群;李永强;韩双来;胡建坤;唐鹏飞 申请(专利权)人: 杭州谱育科技发展有限公司
主分类号: G01N21/3504 分类号: G01N21/3504;G01N21/01
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 311305 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供了FTIR分析仪,所述FTIR分析仪包括光源、探测器模块;壳体内具有空腔,所述探测器模块设置在所述空腔内;导热件的一端连接所述探测器模块,另一端与温度调节模块连接;温度调节模块设置在所述壳体外,所述温度传感器用于检测所述探测器的温度;散热模块包括散热器,所述散热器与所述温度调节模块连接。本发明具有检测误差小、稳定性好等优点。
搜索关键词: ftir 分析
【主权项】:
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