[发明专利]FTIR分析仪在审
申请号: | 202011616667.6 | 申请日: | 2020-12-31 |
公开(公告)号: | CN112834452A | 公开(公告)日: | 2021-05-25 |
发明(设计)人: | 陈群群;李永强;韩双来;胡建坤;唐鹏飞 | 申请(专利权)人: | 杭州谱育科技发展有限公司 |
主分类号: | G01N21/3504 | 分类号: | G01N21/3504;G01N21/01 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 311305 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明提供了FTIR分析仪,所述FTIR分析仪包括光源、探测器模块;壳体内具有空腔,所述探测器模块设置在所述空腔内;导热件的一端连接所述探测器模块,另一端与温度调节模块连接;温度调节模块设置在所述壳体外,所述温度传感器用于检测所述探测器的温度;散热模块包括散热器,所述散热器与所述温度调节模块连接。本发明具有检测误差小、稳定性好等优点。 | ||
搜索关键词: | ftir 分析 | ||
【主权项】:
暂无信息
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