[发明专利]一种用于耦合腔加速结构的边耦合腔测量装置及边耦合腔测量方法有效
| 申请号： | 202011618129.0 | 申请日： | 2020-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN112763795B | 公开（公告）日： | 2022-11-29 |
| 发明（设计）人： | 杨誉;杨京鹤 | 申请（专利权）人： | 中国原子能科学研究院 |
| 主分类号： | G01R23/02 | 分类号： | G01R23/02 |
| 代理公司： | 北京市创世宏景专利商标代理有限责任公司 11493 | 代理人： | 王鹏鑫 |
| 地址： | 102413 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于耦合腔加速结构的边耦合腔测量装置，包括：网络分析仪、测量部和电缆。其中，所述测量部包括主体和同轴线；所述主体为形成有凹槽的铜管；所述同轴线的一端设有磁耦合环；所述同轴线位于所述主体中，且所述磁耦合环位于所述凹槽中；所述同轴线的另一端设有同轴射频接头；所述同轴射频接头通过所述电缆与所述网络分析仪连接。本发明的技术方案通过主体上的凹槽以及位于凹槽中的磁耦合环，既可以实现将待测边耦合腔两侧的加速腔完全短路，又可以为微波信号的激励和接收装置留出了空间，从而可以准确地获取边耦合腔的测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 耦合 加速 结构 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
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