[发明专利]一种采用低温介入的半导体材料粉碎装置及方法有效

专利信息
申请号: 202011620132.6 申请日: 2020-12-30
公开(公告)号: CN112827610B 公开(公告)日: 2022-07-26
发明(设计)人: 吴银雪 申请(专利权)人: 东和半导体设备研究开发(苏州)有限公司
主分类号: B02C19/18 分类号: B02C19/18;B02C1/00;B02C23/00
代理公司: 泉州市兴博知识产权代理事务所(普通合伙) 35238 代理人: 易敏
地址: 215000 江苏省苏州市中国(江苏)自*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种采用低温介入的半导体材料粉碎装置及方法,包括从左到右并排设置的第一底架和第二底架,第二底架顶部的右侧设置有一次粉碎机构,第一底架内壁的底部设置有低温介入机构,第一底架内壁上方的两侧均转动连接有转轴,本发明涉及半导体材料加工技术领域。该采用低温介入的半导体材料粉碎装置及方法,通过在第二底架顶部的右侧设置一次粉碎机构,第一底架内壁的底部设置低温介入机构,利用低温介入机构中的低温箱、冷凝器、控制箱和导线,可以先行对半导体材料进行脆化处理,后续粉碎过程更加容易进行,配合一次粉碎机构进行粉碎箱内的往复碾压过程,对半导体材料的初步粉碎过程,减少粉碎时间,提升粉碎效率。
搜索关键词: 一种 采用 低温 介入 半导体材料 粉碎 装置 方法
【主权项】:
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