[发明专利]针对三层导电结构缺陷的检测方法在审
| 申请号： | 202011620290.1 | 申请日： | 2020-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN112800843A | 公开（公告）日： | 2021-05-14 |
| 发明（设计）人： | 周莹;陈友荣;金合丽;刘半藤;任条娟 | 申请（专利权）人： | 浙江树人学院(浙江树人大学) |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00;G06K9/62;G01N27/90 |
| 代理公司： | 绍兴市寅越专利代理事务所(普通合伙) 33285 | 代理人： | 邓爱民 |
| 地址： | 312303 浙江省绍*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种针对三层导电结构缺陷的检测方法，该方法利用傅里叶变换和希尔伯特变换分析脉冲涡流检测信号频域和瞬时频域并提取特征，并且提取信号时域中峰值、过零点时间等特征，能较好并全面得到三层导电结构的缺陷信息；并采用基于AIC和Fisher的特征降维方法，减少特征冗余，能够使降维后的特征更好的表征缺陷类型，提高分类器的识别精度和效率，最后利用SVM构造分类器，采用粒子群算法对分类器模型参数进行寻优，能够提高训练速度和精度。本发明可提高三层导电结构的缺陷位置、缺陷尺寸识别的查准率和查全率，能够降低缺陷尺寸识别的误差。 | ||
| 搜索关键词： | 针对 三层 导电 结构 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
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