[发明专利]一种芯片脱焊回收装置有效

专利信息
申请号: 202011620689.X 申请日: 2020-12-31
公开(公告)号: CN112518064B 公开(公告)日: 2021-08-17
发明(设计)人: 黄少岚 申请(专利权)人: 万秀芬
主分类号: B23K1/018 分类号: B23K1/018;B23K3/00;B07C5/34;B07C5/36;B65G47/92
代理公司: 深圳峰诚志合知识产权代理有限公司 44525 代理人: 宋宇航
地址: 317100 浙江省台州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种芯片脱焊回收装置,包括外壳,所述外壳内设有外壳空腔,所述外壳空腔内设有芯片检测装置,所述芯片检测装置包括检测安装板,所述检测安装板固定设置在所述外壳空腔上侧内壁上,本发明内置芯片检测装置,通过摆正芯片位置后通电检测,将好坏芯片通过检测分离开,从而提高良品芯片回收效率,本发明内置芯片加热脱焊回收装置,通过给芯片进行风热脱焊处理,将芯片从pcb板上脱离下来,本发明内置芯片运输装置,将芯片通过运输带运输到指定位置,进行检测或者拆除,提高批量回收的效率。
搜索关键词: 一种 芯片 回收 装置
【主权项】:
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