[发明专利]沟槽型功率器件的制备方法有效
申请号: | 202011624731.5 | 申请日: | 2020-12-31 |
公开(公告)号: | CN112802751B | 公开(公告)日: | 2022-12-02 |
发明(设计)人: | 袁伟;黄康荣;宁润涛 | 申请(专利权)人: | 广州粤芯半导体技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L29/78;H01L29/423 |
代理公司: | 上海思捷知识产权代理有限公司 31295 | 代理人: | 王宏婧 |
地址: | 510000 广东省广州*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种沟槽型功率器件的制备方法,包括:提供基底,所述基底包括器件单元区、电极连接区及终端区,所述器件单元区及所述电极连接区中分别形成有若干第一沟槽及若干第二沟槽,所述第一沟槽及所述第二沟槽的内壁上形成有第一氧化层;在所述基底的电极连接区及所述基底的终端区上形成图形化的光刻胶层,对所述第一多晶硅层进行刻蚀以使所述第一多晶硅层的顶部低于所述第一沟槽的顶部;对所述第一沟槽中的第一氧化层进行湿法刻蚀以使所述第一沟槽中的第一氧化层的顶部低于所述第一多晶硅层的顶部;本发明避免了多晶硅残留导致器件短路,提高器件的电学性能。 | ||
搜索关键词: | 沟槽 功率 器件 制备 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广州粤芯半导体技术有限公司,未经广州粤芯半导体技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011624731.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造