[发明专利]空间指纹图配准基元特征描述与匹配方法有效
| 申请号： | 202011625622.5 | 申请日： | 2020-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN112767460B | 公开（公告）日： | 2022-06-14 |
| 发明（设计）人： | 陈驰 | 申请（专利权）人： | 武汉大学 |
| 主分类号： | G06T7/33 | 分类号： | G06T7/33;G06T7/11 |
| 代理公司： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人： | 王琪 |
| 地址： | 430072 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提出一种空间指纹图配准基元特征描述与匹配方法，使用配准基元集合内各个元素之间的空间关系构建空间指纹图，从而对配准基元集合整体分布特征进行描述。采用GED(Graph Edit Distance，图编辑距离)度量异源空间指纹图之间的相似性，将局部与全局相似性作为匹配测度，查找最优配准基元空间指纹图匹配关系，实现共轭配准基元对的生成，用于后续模型参数的解算。 | ||
| 搜索关键词： | 空间 指纹 图配准基元 特征 描述 匹配 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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