[发明专利]半导体封装件及其制造方法在审
申请号: | 202011627038.3 | 申请日: | 2020-12-31 |
公开(公告)号: | CN113130405A | 公开(公告)日: | 2021-07-16 |
发明(设计)人: | 陈扬哲;林振华;曾皇文;梁其翔;刘醇明 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/04 | 分类号: | H01L23/04;H01L23/10;H01L21/50 |
代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;李伟 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 半导体封装件包括:半导体芯片,设置在第一衬底的第一主表面上方;封装盖,设置在半导体芯片上方;以及间隔件,从所述封装盖延伸穿过第一衬底中的相应孔。间隔件进入第一衬底的第一主表面处的孔,并且延伸超过第一衬底的相对的第二主表面。本申请的实施例还涉及制造半导体封装件的方法。 | ||
搜索关键词: | 半导体 封装 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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