[发明专利]一种X射线系统的辐射剂量数值计算方法在审

专利信息
申请号: 202011628292.5 申请日: 2020-12-31
公开(公告)号: CN112835088A 公开(公告)日: 2021-05-25
发明(设计)人: 王同乐 申请(专利权)人: 德润特医疗科技(武汉)有限公司
主分类号: G01T1/02 分类号: G01T1/02
代理公司: 宁波甬致专利代理有限公司 33228 代理人: 张庆龙
地址: 430079 湖北省武汉*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种X射线系统的辐射剂量数值计算方法,包括:测定不同管电压下的X射线谱数据;对X射线谱与管电压的关系进行数据拟合;计算在不同厚度、不同材质的滤过介质下衰减后的X射线谱;计算X射线照射剂量;计算当前曝光下的单位电流时间积的X射线吸收剂量;通过X射线吸收剂量与管电流、曝光时间的关系,计算X射线累积剂量;通过外部剂量计测定实际剂量,计算当前管电压下的校准系数;计算不同管电压下的系列校准系数;对于固定靶材的X射线源,变更曝光条件计算原始剂量,再经过校准系数完成校准得到数值计算剂量;根据选择实际源像距与校准源像距的关系,及受照面大小,计算得到面积辐射剂量积数据。
搜索关键词: 一种 射线 系统 辐射 剂量 数值 计算方法
【主权项】:
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