[发明专利]一种全自动芯片老化测试装置在审
| 申请号： | 202011629946.6 | 申请日： | 2020-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN112964977A | 公开（公告）日： | 2021-06-15 |
| 发明（设计）人： | 何润 | 申请（专利权）人： | 苏州乾鸣自动化科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 | 代理人： | 叶丙静 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种全自动芯片老化测试装置，包括机架，所述机架上设置有用于取放芯片的上下料区，所述上下料区一侧设置有用于运载装有芯片的老化板的中转区，所述中转区一侧设置有用于对老化板上芯片进行老化测试的老化测试区。本申中上下料区内的上下料机构可自动对待测或测试后的芯片进行上下料，中转区内的升降转运机构可自动对将装载有待测或测试后芯片的老化板在上下料区与老化测试区之间进行转运，最后在老化测试区完成老化测试；老化测试的整个过程靠机器自动完成，实现全自动对芯片的老化测试，大大减少了人力的输出，提高了工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 全自动 芯片 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
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