[发明专利]双面X射线探测器及成像方法在审
| 申请号： | 202011633864.9 | 申请日： | 2020-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN112834530A | 公开（公告）日： | 2021-05-25 |
| 发明（设计）人： | 程里朋;林言成;高鹏飞 | 申请（专利权）人： | 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/00 | 分类号： | G01N23/00 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 余明伟 |
| 地址： | 201201 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种双面X射线探测器及成像方法，包括第一闪烁体层、第一传感器层、过滤层、第二传感器层及第二闪烁体层；本发明无需增加防背散射材质层，可从根本上解决背散射问题，且可降低成本、减轻重量、节省空间；能够满足提供具有不同分辨率和闪烁体层的需求，无需更换探测器或是更换传感器，可提高工作效率；组装拆卸便利，互不影响，可提高拆装效率；能够提供多种成像方法包括单侧单源单能模式，传感器的正照式和背照式可按照需求切换；双侧单源单能模式，可同时对不同测试对象采集图像，提高成像效率；双侧单源双能模式，可对同一测试对象同时成像，满足对高低能同时成像的需求。 | ||
| 搜索关键词： | 双面 射线 探测器 成像 方法 | ||
【主权项】：
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