[发明专利]集成电路时延检测方法、装置、存储介质及电子设备在审
申请号: | 202011643839.9 | 申请日: | 2020-12-31 |
公开(公告)号: | CN112784520A | 公开(公告)日: | 2021-05-11 |
发明(设计)人: | 刘进;黄瑞锋;赵慧 | 申请(专利权)人: | 成都海光微电子技术有限公司 |
主分类号: | G06F30/394 | 分类号: | G06F30/394;G06F30/3953 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 余菲 |
地址: | 610000 四川省成都市高新区中国(四川)自由贸易试*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本申请提供了一种集成电路时延检测方法、装置、存储介质及电子设备。其中,该集成电路时延检测方法,包括:获取待检测的目标集成电路的电路网表以及电路版图;获取选定的目标走线,并基于所述目标走线在所述电路版图获取指定电路区域;根据所述电路网表对所述指定电路区域进行寄生参数抽取,得到精简DSPF网表文件;根据所述精简DSPF网表文件进行仿真得到所述目标走线在所述指定电路区域的第一时延;根据所述第一时延计算所述目标走线为任意长度时的目标时延。从而只需一次仿真即可计算出任意长度或者长度变化后的目标走线的目标时延,可以减少仿真次数,提高效率。 | ||
搜索关键词: | 集成电路 检测 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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