[发明专利]一种芯片测试数据跟踪查询方法、系统及电子设备有效
| 申请号： | 202011644099.0 | 申请日： | 2020-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN112685237B | 公开（公告）日： | 2023-06-13 |
| 发明（设计）人： | 夏飞;江华;陆毅;张珩 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/20 | 分类号： | G06F11/20 |
| 代理公司： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人： | 张仲波 |
| 地址： | 300000 天津市滨海新区天津华苑*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明的实施例公开了一种芯片测试数据跟踪查询方法、系统及电子设备，涉及芯片测试技术领域，避免了目前主系统故障后，芯片测试数据相关业务(查询、存储等)中断的问题。所述芯片测试数据跟踪查询系统，包括：两个双活的服务器集群，每个服务器集群包括：监听服务器，用于将监听到的芯片测试站点的新测试数据文件发送给解析服务器；解析服务器，用于对接收到的测试数据文件进行解析及数据合法性验证，并将验证通过后测试数据发送给数据库服务器进行存储；查询服务器，用于根据芯片测试站点发来的查询请求，从数据库服务器中检索与查询请求对应的测试数据并返回给芯片测试站点。本发明具有高可用性和扩展性，同时存储的数据也非常安全。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试数据 跟踪 查询 方法 系统 电子设备 | ||
【主权项】：
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