[实用新型]IR-CUT三姿势检测治具有效

专利信息
申请号: 202020032676.X 申请日: 2020-01-08
公开(公告)号: CN211477003U 公开(公告)日: 2020-09-11
发明(设计)人: 黄华辉;史军波;王国平;李瑾 申请(专利权)人: 深圳融合光学科技有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 福州元创专利商标代理有限公司 35100 代理人: 陆帅;蔡学俊
地址: 518000 广东省深圳市南山区西丽街道松*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型涉及一种IR‑CUT三姿势检测治具,包括支架、转动检测台,所述转动检测台后侧面中部安装有纵置的转轴,转轴安装在支架上,转轴周侧的上部、左侧、右侧、下侧均开设有定位销孔,支架上于转轴上方、左侧、右侧均安装有与定位销孔配合的弹簧销,所述转动检测台上安装有用于容置镜头的固定座,固定座上方安装有用于压固镜筒上端的压板,转动检测台上与固定座正上方安装红外线发送器,固定座中部镂空,压板上开设有通孔同轴心的入射孔,固定座中部下方安装有用于接收红外线的红外线接收器,本治具结构简单,设计合理,操作使用方便,能对IR‑CUT进行三姿势检测。
搜索关键词: ir cut 姿势 检测
【主权项】:
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