[实用新型]一种高低温闪存测试系统有效
| 申请号： | 202020107790.4 | 申请日： | 2020-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN211016547U | 公开（公告）日： | 2020-07-14 |
| 发明（设计）人： | 张浩明;李四林 | 申请（专利权）人： | 武汉忆数存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;H05K7/20 |
| 代理公司： | 武汉蓝宝石专利代理事务所(特殊普通合伙) 42242 | 代理人： | 谢洋 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖新技*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种高低温闪存测试系统，包括测试仪本体，所述测试仪本体的上部设有测试座，所述测试座的一端通过连接轴座连接有覆压板，所述测试座的另一端连接有卡合座，所述测试仪本体内安装有散热风机，所述测试仪本体上通过安装座安装有加热板，所述测试仪本体内安装有控制模块，所述控制模块电性连接调压模块，所述调压模块电性连接市电网，所述控制模块电性连接显示屏、指示灯、加热板、散热风机和测温模块；本实用新型在测试仪本体内设有散热风机，实现在低温或着是常温下进行检测闪存卡，在测试仪本体内设有加热板，使得闪存卡能够在高温下进行检测，并且设有测温模块，实现对环境的参数进行检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 低温 闪存 测试 系统 | ||
【主权项】：
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