[实用新型]一种数控红外线测量平面度装置有效
| 申请号： | 202020125179.4 | 申请日： | 2020-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN211317235U | 公开（公告）日： | 2020-08-21 |
| 发明（设计）人： | 何国平;郭辉耘;刘庆平;鲁少洲;董春涛;苏日幸;龙协;董洲伟;尧伟;焦钢勇;王亦伟;黄伟标 | 申请（专利权）人： | 富士智能机电（珠海）有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 519100 广东省珠海*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种数控红外线测量平面度装置，其中，包括底架、在底架上设有的平移导轨结构、在平移导轨结构一侧的底架上设有的支架结构、在支架结构上设有待测量的背板、在平移导轨结构上设有的竖直导轨结构，及在竖直导轨结构上设有的红外线发射测量器。红外线发射测量器在平衡导轨和竖直导轨作用下，对背板的表面上下左右进行测量。本实用新型具有快速有效测量的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 数控 红外线 测量 平面 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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