[实用新型]一种XRF检测设备的侧照式分析装置有效

专利信息
申请号: 202020195880.3 申请日: 2020-02-23
公开(公告)号: CN211669112U 公开(公告)日: 2020-10-13
发明(设计)人: 高志帆;田碧珊;陈泽武;宋硙;王晶晶;侯长奇 申请(专利权)人: 西安佳谱电子科技有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 西安汇智创想知识产权代理有限公司 61247 代理人: 张亚玲
地址: 710000 陕西省西安市西咸新区空港新*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 实用新型公开了一种XRF检测设备的侧照式分析装置,包括壳体和设置在壳体内的内腔,所述内腔的后侧壁上固定设有多个灯座,所述灯座上固定设有灯管,所述内腔的下壁固定设有固定座,所述固定座上设有托板,所述托板下端固定设有滑块,所述固定座上壁设有相匹配的滑槽,所述滑块滑动设置在滑槽内,所述滑块的下壁固定设有连接杆,所述固定座内设有螺纹槽,所述螺纹槽内匹配设有螺纹杆,所述螺纹杆在固定座外的末端固定设有转盘,所述螺纹杆远离转盘的一端转动设有轴承。本实用新型设计巧妙,保证了分析样品在取放过程中的稳定性,避免了因样品晃动导致的分析图上产生光斑或光线条的现象产生,提高了分析的效率。
搜索关键词: 一种 xrf 检测 设备 侧照式 分析 装置
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