[实用新型]芯片推力测试设备

摘要

本实用新型公开了一种芯片推力测试设备，包括基座，以及安装于所述基座上的夹具、推力测试仪、第一X向横移驱动机构、Z向升降驱动机构以及指示装置，夹具用于夹持粘接有芯片的支架，第一X向横移驱动机构用于驱动推力测试仪沿靠近或远离夹具的方向移动，Z向升降驱动机构用于驱动推力测试仪沿Z向做升降运动，指示装置的第一电极与推力测试仪的顶针电连接，指示装置的第二电极与夹具电连接，当推力测试仪的顶针与位于夹具上的支架的顶面接触时，指示装置的第一电极和第二电极形成一闭合回路而使指示装置中的指示灯点亮。其可实现精准定位，能够提高检测精度的同时，还可提高检测效率，从而降低成本。