[实用新型]一种自动张拉系统的位移传感器校核装置有效

专利信息
申请号: 202020228974.6 申请日: 2020-02-29
公开(公告)号: CN211917236U 公开(公告)日: 2020-11-13
发明(设计)人: 徐超;邵林;夏文明;汪涵;张尧川;张兴旺;杜美 申请(专利权)人: 中铁四局集团第四工程有限公司;中铁四局集团有限公司
主分类号: B28B23/04 分类号: B28B23/04;B28B17/00
代理公司: 合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 代理人: 金凯
地址: 230041 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 实用新型公开了一种自动张拉系统的位移传感器校核装置,包括自动张拉系统和反力框架,反力框架上设置有直线传感器和千斤顶,直线传感器的固定端与反力框架固定连接、探测端与千斤顶接触连接,自动张拉系统的输出端与千斤顶的动力输入端连接,反力框架包括底座和固定于底座上的立柱,千斤顶设置于底座上,直线传感器固定于立柱上;可以对自动张拉系统进行力值和位移值的校核,解决了传统无法对自动张拉系统的位移系统进行准确的校核的缺陷。
搜索关键词: 一种 自动 系统 位移 传感器 校核 装置
【主权项】:
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