[实用新型]一种检测赫尔-肖氏薄板中颗粒孔隙率的试验装置有效
申请号: | 202020229808.8 | 申请日: | 2020-02-29 |
公开(公告)号: | CN212031246U | 公开(公告)日: | 2020-11-27 |
发明(设计)人: | 郑刚;佟婧博;张天奇;张晓凯;邱惠敏 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01N15/08 | 分类号: | G01N15/08 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 李丽萍 |
地址: | 300350 天津市津南区海*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开了一种检测赫尔‑肖氏薄板中颗粒孔隙率的试验装置,包括密封摄影棚、赫尔‑肖氏盛颗粒玻片架、无影灯、CCD相机和数据处理系统;赫尔‑肖氏盛颗粒玻片架上安装有N个赫尔‑肖氏盛颗粒玻片;N个赫尔‑肖氏盛颗粒玻片是厚度相同,但其中的颗粒试样的密实度不一样;无影灯设置在赫尔‑肖氏盛颗粒玻片架的正上方,CCD相机设置在赫尔‑肖氏盛颗粒玻片的正下方并通过通讯接口与数据处理系统相连;数据处理系统包括安装在一台计算机中的图像识别软件,用于接收、记录和处理来自于CCD相机的数据,并以图片的透光程度作为判别指标来辨别统一厚度薄颗粒层的孔隙率。可用于检验赫尔‑肖氏薄板中干燥颗粒试样的密实程度及其均匀性。 | ||
搜索关键词: | 一种 检测 赫尔 薄板 颗粒 孔隙率 试验装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津大学,未经天津大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202020229808.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种秸秆发酵后废气的吸收装置
- 下一篇:一种联箱式防水垢太阳能热水器