[实用新型]一种检测赫尔-肖氏薄板中颗粒孔隙率的试验装置有效

专利信息
申请号: 202020229808.8 申请日: 2020-02-29
公开(公告)号: CN212031246U 公开(公告)日: 2020-11-27
发明(设计)人: 郑刚;佟婧博;张天奇;张晓凯;邱惠敏 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01N15/08 分类号: G01N15/08
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 李丽萍
地址: 300350 天津市津南区海*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 实用新型公开了一种检测赫尔‑肖氏薄板中颗粒孔隙率的试验装置,包括密封摄影棚、赫尔‑肖氏盛颗粒玻片架、无影灯、CCD相机和数据处理系统;赫尔‑肖氏盛颗粒玻片架上安装有N个赫尔‑肖氏盛颗粒玻片;N个赫尔‑肖氏盛颗粒玻片是厚度相同,但其中的颗粒试样的密实度不一样;无影灯设置在赫尔‑肖氏盛颗粒玻片架的正上方,CCD相机设置在赫尔‑肖氏盛颗粒玻片的正下方并通过通讯接口与数据处理系统相连;数据处理系统包括安装在一台计算机中的图像识别软件,用于接收、记录和处理来自于CCD相机的数据,并以图片的透光程度作为判别指标来辨别统一厚度薄颗粒层的孔隙率。可用于检验赫尔‑肖氏薄板中干燥颗粒试样的密实程度及其均匀性。
搜索关键词: 一种 检测 赫尔 薄板 颗粒 孔隙率 试验装置
【主权项】:
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