[实用新型]芯片测试座有效
申请号: | 202020242266.8 | 申请日: | 2020-03-03 |
公开(公告)号: | CN212568852U | 公开(公告)日: | 2021-02-19 |
发明(设计)人: | 梁民 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密电子(天津)有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/28 |
代理公司: | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 | 代理人: | 孙芬;苏广秀 |
地址: | 300457 天津市滨*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种芯片测试座,所述芯片测试座包括:芯片座,所述芯片座用于安装所述待测试/烧录芯片,所述芯片座的颜色为第一颜色;标识件,所述标识件设置在所述芯片座上,所述标识件的颜色为第二颜色,所述第二颜色不同于所述第一颜色,可供视觉装置准确识别所述芯片测试座上是否放置有待测试/烧录芯片。 | ||
搜索关键词: | 芯片 测试 | ||
【主权项】:
暂无信息
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