[实用新型]一种可降低成本的辐射制冷薄膜的性能测试装置有效

专利信息
申请号: 202020289180.0 申请日: 2020-03-10
公开(公告)号: CN212159633U 公开(公告)日: 2020-12-15
发明(设计)人: 陈剑洪;陈余良;杨美玉;庄子哲;刘跃军;钟海长;郑伟;陈曦 申请(专利权)人: 厦门理工学院
主分类号: G01N25/20 分类号: G01N25/20
代理公司: 泉州劲翔专利事务所(普通合伙) 35216 代理人: 许珠珍
地址: 361000 福*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明涉及辐射制冷技术领域,尤其是涉及的是一种可降低成本的辐射制冷薄膜的性能测试装置,包括金属罐体、支撑架、测温装置,所述金属罐体倾斜设置在支撑架上,所述金属罐体内设置有罐体空腔、液体腔,所述液体腔设置在罐体空腔之上,所述金属罐体的一侧设置有与液体腔相连通的开口,所述开口的口径与测温装置热电偶感温端口径相匹配,所述开口处向金属罐体外延伸设置有长颈,所述测温装置热电偶感温端沿着长颈穿过开口伸入液体腔内,所述金属罐体的顶部经抛光处理呈有优弧面。本发明结构简单,构造巧妙,制作成本低,密封性良好,热量传递快速有效,可以在镀膜之前对薄膜的辐射制冷性能进行快速评估测试,降低测试成本。
搜索关键词: 一种 降低成本 辐射 制冷 薄膜 性能 测试 装置
【主权项】:
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