[实用新型]一种电磁屏蔽件上下盖平面度检测装置有效
申请号: | 202020299016.8 | 申请日: | 2020-03-12 |
公开(公告)号: | CN211855244U | 公开(公告)日: | 2020-11-03 |
发明(设计)人: | 陈志强;桑托斯;王兰婷 | 申请(专利权)人: | 伟丰(天津)科技发展有限公司 |
主分类号: | G01B11/30 | 分类号: | G01B11/30 |
代理公司: | 天津展誉专利代理有限公司 12221 | 代理人: | 刘永会 |
地址: | 300000 *** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本实用新型涉及电磁屏蔽件上下盖生产技术领域,尤其涉及一种电磁屏蔽件上下盖平面度检测装置,其包括机架、转盘、平面度检测装置及格栅板,转盘转动的安装于机架上,平面度检测装置包括安装架及激光检测机构,安装架固装于机架上,激光检测机构固装于安装架顶部,转盘上开设有多个就位孔,格栅板为矩形,其包括边框、横向加强板及纵向加强板,横向加强板及纵向加强板与边框上表面相平,边框的四边通过螺栓固装在电磁屏蔽件上下盖就位孔外缘,边框上表面沿四个边分别固装有定位柱,定位柱中部围成的区域为与电磁屏蔽件上下盖形状相适应的矩形。本实用新型提供的装置结构简单,定位方便且防止电磁屏蔽件上下盖被误检。 | ||
搜索关键词: | 一种 电磁 屏蔽 上下 平面 检测 装置 | ||
【主权项】:
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