[实用新型]一种大气云雾场颗粒探测与粒径测量的装置有效

专利信息
申请号: 202020333429.3 申请日: 2020-03-17
公开(公告)号: CN212410375U 公开(公告)日: 2021-01-26
发明(设计)人: 吴迎春;金昱廷;吴学成;李晗;孙玉玺;高燚超;金其文;张宏宇;陈玲红;岑可法 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02;G01S17/95;G01S7/48;G01S7/481;G01S17/89
代理公司: 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 代理人: 白静兰
地址: 310013 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型公开了一种大气云雾场颗粒探测与粒径测量的装置:激光扩束平行系统,激光扩束平行系统产生平行光束照射颗粒探测区域,当有颗粒存在时,颗粒产生颗粒散射光;颗粒探测与全息拍摄系统,包括数字相机,颗粒探测与全息拍摄系统用于判断颗粒探测区域是否有颗粒存在,有颗粒存在时,颗粒散射光的一部分进入数字相机并在控制与数据处理系统的控制下对所述颗粒探测区域记录颗粒全息图;控制与数据处理系统,包括光电探测器,颗粒散射光的另一部分触发光电探测器产生脉冲触发信号;控制与数据处理系统利用光电探测器产生的脉冲触发信号控制数字相机拍摄颗粒全息图,并进行重建和处理获得颗粒粒径大小。该装置极大提高了颗粒采样与测量效率。
搜索关键词: 一种 大气 云雾 颗粒 探测 粒径 测量 装置
【主权项】:
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