[实用新型]一种测试装置及测试系统有效
申请号: | 202020338083.6 | 申请日: | 2020-03-17 |
公开(公告)号: | CN212031654U | 公开(公告)日: | 2020-11-27 |
发明(设计)人: | 黄梓弘;史波;陈治中 | 申请(专利权)人: | 珠海格力电器股份有限公司;珠海零边界集成电路有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R1/04 |
代理公司: | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人: | 吴大建;何娇 |
地址: | 519000*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型涉及半导体器件测试技术领域,特别地涉及一种测试装置及测试系统。本实用新型的测试装置将所述测试插孔件可活动地连接于所述测试基板,使得相邻所述测试插孔件之间相互靠近或远离,进而可灵活地改变测试插孔件的排序,可灵活地根据用户需要进行测试的半导体器件的管脚的排列方式,进而调整测试插孔件的排序使之与半导体器件的管脚的排列方式相对应,可灵活地测试多种管脚排序不同的半导体器件。本实用新型提供的测试装置可灵活地测试多种管脚排序不同的半导体器件,节约成本,提高工作效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 测试 装置 系统 | ||
【主权项】:
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