[实用新型]一种沟槽RC-IGBT器件结构有效

专利信息
申请号: 202020375237.9 申请日: 2020-03-23
公开(公告)号: CN211789025U 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 伽亚帕·维拉玛·苏巴斯;汤艺;永福 申请(专利权)人: 嘉兴斯达半导体股份有限公司
主分类号: H01L29/739 分类号: H01L29/739;H01L29/06;H01L21/331
代理公司: 杭州九洲专利事务所有限公司 33101 代理人: 陈琦;陈继亮
地址: 314006 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种沟槽RC‑IGBT器件结构,主要包括N型衬底及设置在N型衬底顶部的P阱层,所述P阱层上通过第一接触孔和第二接触孔连接有金属层,所述第一接触孔两侧的P阱层内朝向N型衬底一侧分别设置有沟槽,该沟槽内通过氧化层设置有与沟槽形状对应的多晶硅层,所述N型衬底靠近第一接触孔的一侧设置有与P阱层接触的N型电荷储存层,所述N型衬底的底部设置有N型场终止层;所述金属层为阶梯状结构,且第一接触孔上部金属层的高度高于第二接触孔上部金属层的高度,所述金属层及金属层覆盖区域依次形成了IGBT单胞区及FRD单胞区,N型衬底上未设置金属层的一侧形成了终端区域;它具有工艺控制简单,与通用的沟槽型IGBT工艺兼容等特点。
搜索关键词: 一种 沟槽 rc igbt 器件 结构
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