[实用新型]一种紫外辐照度计低值校准装置有效

专利信息
申请号: 202020507164.4 申请日: 2020-04-09
公开(公告)号: CN211978111U 公开(公告)日: 2020-11-20
发明(设计)人: 阚劲松;徐迎春;刘冲;褚楚;王酣 申请(专利权)人: 中国电子技术标准化研究院
主分类号: G01J1/02 分类号: G01J1/02;G01J1/08;G01J1/04
代理公司: 北京世誉鑫诚专利代理有限公司 11368 代理人: 任欣生
地址: 100176 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请涉及一种紫外辐照度计低值校准装置及校准方法,装置包括光学平台、位于光学平台上的三套校准基本单元和一个标准紫外辐照度计;每套校准基本单元包括位于同一直线上依次排列的紫外光源、精密光阑、盲板、滤光片组、衰减片组;三套校准基本单元的紫外光源分别为位于中间位置的第一紫外光源、位于后方的第二紫外光源和位于前方的第三紫外光源;三个非相干的紫外光源发射出的光经精密光阑、滤光片组、衰减片组后汇聚于标准紫外辐照度计接收器中心,被校紫外辐照度计放置与中间位置衰减片组后面,被校紫外辐照度计与衰减片组中心在同一水平线上。本申请校准设备少,无光轨等设备,操作简单、成本低,装置体积小,可携带进行现场计量。
搜索关键词: 一种 紫外 辐照 低值 校准 装置
【主权项】:
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