[实用新型]一种电子元器件累计剂量辐照试验支架有效

专利信息
申请号: 202020533536.0 申请日: 2020-04-13
公开(公告)号: CN212301618U 公开(公告)日: 2021-01-05
发明(设计)人: 何亮;易军;谭小雄;张经恒 申请(专利权)人: 深圳市金鹏源辐照技术有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 深圳市远方鼎立知识产权代理事务所(普通合伙) 44702 代理人: 刘飞燕
地址: 518000 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种电子元器件累计剂量辐照试验支架,包括底座壳和试验支架,所述底座壳的中部固定连接有收纳槽,所述收纳槽的顶部固定连接有试验支架,所述收纳槽的内部滑动连接有剂量盒。该电子元器件累计剂量辐照试验支架,通过透明盖体和放大镜片的设置,透明盖体翻转调整至底座壳的顶部,使其整体对试验支架外围起到密封遮挡的作用,而其中部安装的放大镜片方便了试验人员对检测器件的精确观察,更降低了检测器件对试验人员造成的辐射危害情况,通过收纳槽和剂量盒的设置,对可能出现滴漏液体情况提供底部收纳的作用,方便了试验人员在后期的卫生处理性,更是间接降低了剂量造成的二次辐照危害影响。
搜索关键词: 一种 电子元器件 累计 剂量 辐照 试验 支架
【主权项】:
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