[实用新型]一种自动化芯片测试装置有效
| 申请号： | 202020579208.4 | 申请日： | 2020-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN212160007U | 公开（公告）日： | 2020-12-15 |
| 发明（设计）人： | 黄辉 | 申请（专利权）人： | 深圳市芯片测试技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公布了一种自动化芯片测试装置，它包括沿长度方向设置有滑槽的测试机体以及配设在所述滑槽上与滑槽活动连接的芯片安装座；其中测试机体沿竖直方向开设导通所述滑槽的上料口和检测口，在所述检测口的上端配设上芯片测试座；其中所述的芯片安装座与行程气缸的推杆连接，在芯片安装座的上端设置下芯片测试座，所述的下芯片测试座具有容置待测芯片、并对待测芯片周向固定的放置口，当所述上芯片测试座与下芯片测试座盖合时，所述的上芯片测试座用于对所述待测芯片测试，本实用新型提出一种自动化芯片测试装置，旨在达到对芯片进行高效率测试的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 自动化 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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