[实用新型]高功率脉冲激光测距机光轴一致性测量系统有效

专利信息
申请号: 202020625854.X 申请日: 2020-04-23
公开(公告)号: CN211954620U 公开(公告)日: 2020-11-17
发明(设计)人: 张玺斌;赵建科;徐亮;刘峰;康晓鹏;李朝辉;李晓辉;午建军;魏紫薇 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01M11/04 分类号: G01M11/04;G01M11/02
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 王杨洋
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 实用新型涉及激光测距机,具体涉及一种基于散射取样的高功率脉冲激光测距机光轴一致性测量系统。本实用新型的目的是解决现有高功率脉冲激光测距机光轴一致性测量系统存在对于宽谱段激光光轴一致性测量使用受限的技术问题,提供一种高功率脉冲激光测距机光轴一致性测量系统。该系统包括离轴抛物面镜、折轴镜、毛玻璃、取样镜、会聚透镜、CCD探测器、模拟激光器和靶标切换导轨;折轴镜和毛玻璃依次设置于离轴抛物面镜的会聚光路上;取样镜、会聚透镜和CCD探测器依次设置于离轴抛物面镜的准直光路上;模拟激光器和所述毛玻璃均设置于所述靶标切换导轨上,所述靶标切换导轨通过经折轴镜反射的离轴抛物面镜焦点处。
搜索关键词: 功率 脉冲 激光 测距 光轴 一致性 测量 系统
【主权项】:
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