[实用新型]高精度多光轴一致性测量系统有效
| 申请号： | 202020626892.7 | 申请日： | 2020-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN211954621U | 公开（公告）日： | 2020-11-17 |
| 发明（设计）人： | 张玺斌;赵建科;徐亮;刘峰;高立民;李晓辉;李朝辉;午建军;刘勇 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/04 | 分类号： | G01M11/04;G01M11/02 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 王杨洋 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及多光轴一致性测量，具体涉及一种高精度多光轴一致性测量系统。本实用新型的目的是解决现有多光轴一致性测量系统存在无法建立高精度测量基准、难以进行兼顾激光发射光轴、激光接收光轴、可见光光轴、红外光轴的多光轴一致性测量的技术问题，提供一种高精度多光轴一致性测量系统。该系统包括平行光管组件、焦点组件、取样镜组件、长焦自准直光管组件；平行光管组件包括离轴抛物面镜和折轴镜；取样镜组件包括第一取样镜和第二取样镜，第二取样镜为半透半反镜；长焦自准直光管组件包括会聚镜头、分光镜、CCD探测器、第二十字靶、面阵光源。 | ||
| 搜索关键词： | 高精度 光轴 一致性 测量 系统 | ||
【主权项】：
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