[实用新型]一种利用X射线检测产品内部缺陷的装置有效

专利信息
申请号: 202020673123.2 申请日: 2020-04-28
公开(公告)号: CN212364135U 公开(公告)日: 2021-01-15
发明(设计)人: 刘丽芳;郭晶;赵庆;杨玉玺;何维民;温嘉琪;孟祥龙;伊延龙;韩兆成;徐连奇;田秀金 申请(专利权)人: 奥镁(大连)有限公司
主分类号: G01N23/00 分类号: G01N23/00
代理公司: 大连智高专利事务所(特殊普通合伙) 21235 代理人: 李楠
地址: 116600 辽宁省*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 一种利用X射线检测产品内部缺陷的装置,属于检测领域。本实用新型解决技术问题采用的装置设有台面为“十”字状升降台,“十”的四个端点设有“U”状卡槽,卡槽开口向外,卡槽内设有转盘,转盘为正方形状,正方形中心位置为圆盘,圆盘可旋转且圆盘表面设有“L”状机械抓,机械抓一条边贴于圆盘内,另一条边与圆盘面垂直。本实用新型还设有轨道,轨道一端设于升降台一个转盘正下方,轨道另一端设置于隔离舱内,隔离舱内轨道端点两侧分别设有数字成像器和X‑射线机,轨道上设有载物车,载物车用来运输转盘。隔离舱外侧设有图像处理器和电器控制器。本实用新型生产操作性强、安全可靠、图像灵敏度高、缺陷评定准确且自动化程度高可连续工作。
搜索关键词: 一种 利用 射线 检测 产品 内部 缺陷 装置
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