[实用新型]一种集成电路用测试装置有效
申请号: | 202020691323.0 | 申请日: | 2020-04-29 |
公开(公告)号: | CN212483632U | 公开(公告)日: | 2021-02-05 |
发明(设计)人: | 严传滨 | 申请(专利权)人: | 深圳市科纳森电子有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518116 广东省深圳市龙岗区龙岗街*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种集成电路用测试装置,包括装置本体、面板、导线,所述面板的表面设有固定板,所述固定板包括下水平部、上竖直部,所述固定板上竖直部的内部设有滑动方块,所述固定板上竖直部的表面设有第一连接杆,所述第一连接杆远离固定板的端部设有限位机构,所述限位机构包括固定块、第二连接杆、滑动块,所述固定块的表面设有三个绕线柱,所述滑动块端部的内部设有弹簧,所述固定板上竖直部的顶部设有稳定机构,所述稳定机构包括旋杆、滑块、下底块、上挡块;电路板测试仪上导线过长的部分于绕线柱外侧环绕,导线于固定块、滑动块之间被限位固定,避免导线过长被扯动,导致导线从电路板测试仪上扯掉而影响测试过程的情况发生。 | ||
搜索关键词: | 一种 集成电路 测试 装置 | ||
【主权项】:
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