[实用新型]一种核心超导约瑟夫森结测试装置

摘要

本实用新型属于量子芯片技术领域，更具体地说，涉及一种核心超导约瑟夫森结测试装置，其中，所述核心超导约瑟夫森结位于超导量子芯片的衬底上用于构成超导量子比特；所述测试装置包括：辅助超导约瑟夫森结，所述辅助超导约瑟夫森结设置在所述衬底上，位于所述核心超导约瑟夫森结的附近，且与所述核心超导约瑟夫森结具有完全一致的结构、尺寸和材质；测量装置，电连接所述辅助超导约瑟夫森结，用于测量所述辅助超导约瑟夫森结的性能参数。本装置不仅可以降低测试难度，还可以提高测试结果的准确性和可靠性，也不会对该核心超导约瑟夫森结所在的超导量子比特的完整性造成破坏，有助于提高量子比特和量子芯片的生产效率。