[实用新型]用于检测芯片的分析装置和分析系统有效
| 申请号： | 202020715235.X | 申请日： | 2020-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN212560194U | 公开（公告）日： | 2021-02-19 |
| 发明（设计）人： | 侯孟军;吴琼;王友学;耿凯;刘祝凯;于静 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | C12M1/00 | 分类号： | C12M1/00;C12M1/42;C12M1/36 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 彭久云 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种用于检测芯片的分析装置和分析系统。该分析装置包括：装载部、控温部和信号检测部。装载部配置为在使用中接收并承载检测芯片，并能够移动检测芯片。控温部包括加热器以及冷却器。加热器配置为加热检测芯片，冷却器配置为对检测芯片降温。信号检测部包括光学传感器。光学传感器配置为接收来自检测芯片的光，并根据所述光进行检测。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 芯片 分析 装置 系统 | ||
【主权项】：
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