[实用新型]芯片开短路测试装置有效
| 申请号： | 202020748108.X | 申请日： | 2020-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN212275891U | 公开（公告）日： | 2021-01-01 |
| 发明（设计）人： | 周武林 | 申请（专利权）人： | 江西联智集成电路有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/52;G01R31/54;G01R31/58 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 周天宇 |
| 地址： | 330096 江西省南昌*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种芯片开短路测试装置。所述装置包括：开关切换模块(1)，连接至芯片(6)的N个待测引脚，N为大于1的整数；控制模块(2)，连接至开关切换模块(1)，控制开关切换模块(1)依次接通N个待测引脚；恒流源模块(3)，连接至开关切换模块(1)，为开关切换模块(1)接通的待测引脚提供测试电流。利用开关切换模块依次接通芯片的待测引脚以进行开短路测试，提高了测试灵活性，并且能够自动实现所有引脚的开短路测试，降低人工操作成本。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 短路 测试 装置 | ||
【主权项】：
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