[实用新型]一种开口式环形磁栅检测装置和电梯有效

专利信息
申请号: 202020761571.8 申请日: 2020-05-09
公开(公告)号: CN213021415U 公开(公告)日: 2021-04-20
发明(设计)人: 杨革文 申请(专利权)人: 深圳市一号楼科技发展有限公司
主分类号: G01B7/00 分类号: G01B7/00;G01B7/02;B66B5/02
代理公司: 深圳市博衍知识产权代理有限公司 44415 代理人: 曾新浩
地址: 518000 广东省深圳市南山区西*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请公开了一种电梯和一种磁栅检测装置,所述磁栅检测装置包括磁栅尺及至少有两个的读头组件和感应开关。所述读头组件设置于磁栅尺外侧,读头组件的工作面与磁栅尺的工作面相对应;所述感应开关设置为随着磁栅尺转动并切换读头组件的工作状态;感应开关位置与磁栅尺缺口的位置相对应,两个读头组件的间距大于或等于所述缺口的距离。本申请通过将磁栅尺开设一个缺口,只需将缺口撑开套进待检测设备中即可,从而使得拆装更加方便,再以两个读头组件和感应开关来协同读取转盘位移数据,避开磁栅尺缺口对连续转动数据读取的影响,确保磁栅检测装置的开口特性与工作准确性和稳定性。
搜索关键词: 一种 开口 环形 检测 装置 电梯
【主权项】:
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