[实用新型]光学量测系统有效

专利信息
申请号: 202020822827.1 申请日: 2020-05-18
公开(公告)号: CN212459405U 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: 郝祖德;傅荔暄;郑莹钦;赖杰宏 申请(专利权)人: 五铃光学股份有限公司
主分类号: G01N21/41 分类号: G01N21/41;G01N21/55;G01N21/59;G01N21/01
代理公司: 北京伟思知识产权代理事务所(普通合伙) 11725 代理人: 聂宁乐;赵丽丽
地址: 中国台湾新竹县*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种光学量测系统,包括一下座、一光学量测装置、一上座与一光源产生装置,下座供放置一待测样品,所述下座顶部具有一透光孔可使光线进入;所述光学量测装置设置于所述下座内部且与所述透光孔相通,用以测量所述待测样品的光学参数;所述上座设置于所述下座上;所述光源产生装置设置于所述上座,所述光源产生装置具有一出光口,所述出光口对应所述透光孔,且所述光源产生装置受操控而可沿一弧线方向移动,使所述出光口的一出光轴线改变入射至所述透光孔的一入射角,借此可测量待测样品在不同入射角的光学参数。
搜索关键词: 光学 系统
【主权项】:
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