[实用新型]一种用于光学薄膜生产的折射率检测装置有效

专利信息
申请号: 202020882269.8 申请日: 2020-05-25
公开(公告)号: CN212083228U 公开(公告)日: 2020-12-04
发明(设计)人: 刘建琼 申请(专利权)人: 刘建琼
主分类号: G01N21/41 分类号: G01N21/41
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 510000 广东省广州市海*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型属于薄膜生产领域,尤其为一种用于光学薄膜生产的折射率检测装置,包括真空箱、光源和检测器,所述真空箱内部固定连接有支柱,所述支柱顶部固定连接有安装框,所述安装框为匚形结构,所述光源转动连接在所述安装框内部,所述光源前后两侧壁均固定连接有转动杆,所述安装框前后两侧内壁均开设有凹槽,光源和检测器设置在真空箱内部,检测时在真空的环境下进行,可以提高检测效果,光源转动连接在真空箱内部支柱顶部匚形的安装框内部,检测器固定在真空箱内部电动推杆的输出端上,使用时转动光源即可将光源转动到不同的位置,来使光线进行不同角度的照射,调整好后再启动电动推杆来将检测器移动到不同的位置。
搜索关键词: 一种 用于 光学薄膜 生产 折射率 检测 装置
【主权项】:
暂无信息
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