[实用新型]一种纳米结构低介电常数聚合物的紫外光测试装置有效

专利信息
申请号: 202020929254.2 申请日: 2020-05-27
公开(公告)号: CN212207034U 公开(公告)日: 2020-12-22
发明(设计)人: 谢永桂;宋婷;宋娉 申请(专利权)人: 西安航谷微波光电科技有限公司
主分类号: G01N17/00 分类号: G01N17/00;B82Y30/00
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 姚咏华
地址: 710075 陕西省西安市*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 实用新型公开了一种纳米结构低介电常数聚合物的紫外光测试装置,包括金属屏蔽盒,金属屏蔽盒中设有启动器、变压器、电源、紫外灯和待测材料载物台,启动器、变压器和电源依次相连,电源连接紫外灯,紫外灯对应的金属屏蔽盒底面设有待测材料载物台;紫外灯、待测材料载物台与金属屏蔽盒下底面平行。该装置可以精确控制在紫外光强度参数测试,从而能得到最可靠的强度数据,推算出准确的耐受紫外线寿命。
搜索关键词: 一种 纳米 结构 介电常数 聚合物 紫外光 测试 装置
【主权项】:
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