[实用新型]一种半圆孔测量用检具有效

专利信息
申请号: 202021030556.2 申请日: 2020-06-08
公开(公告)号: CN212409653U 公开(公告)日: 2021-01-26
发明(设计)人: 束勇方 申请(专利权)人: 江苏江大金属表面处理技术研究院有限公司
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00
代理公司: 北京艾皮专利代理有限公司 11777 代理人: 冯铁惠
地址: 224100 江苏省盐*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种半圆孔测量用检具,属于检具技术领域,解决了现有装置不能灵活的调节检测设备的位置,降低了检测效率的问题;其技术特征是:包括支撑柱和支撑横板,支撑柱的顶部固定安装有支撑横板,支撑横板上设有测量机构,测量机构包括调节组件、升降组件和检测组件,调节组件安装在支撑横板上,调节组件连接有升降组件,升降组件的一侧设有检测组件;本实用新型实施例设置了升降组件,能对检测组件的高度进行灵活的调节,进而适应不同环境下半圆孔的测量工作,且调节方便,操作简单,利于推广使用。
搜索关键词: 一种 半圆 测量 用检具
【主权项】:
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