[实用新型]机器臂片上天线测试系统有效
| 申请号： | 202021044169.4 | 申请日： | 2020-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN212540550U | 公开（公告）日： | 2021-02-12 |
| 发明（设计）人： | 邓晔;张金平;李斌;马天野;李晓峰 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十四研究所 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京律谱知识产权代理事务所(普通合伙) 11457 | 代理人： | 黄云铎 |
| 地址： | 210039 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请公开了机器臂片上天线测试系统，该测试系统包括：光学平台，机器臂，测试探头，射频探针以及待测天线支撑台；光学平台上设置有待测天线支撑台，待测天线支撑台用于固定支撑待测片上天线，光学平台上还设置有射频探针，射频探针的探头与待测片上天线相接触，射频探针用于向待测片上天线发送第一射频信号，其中，射频探针的探头采用共面波导结构压接在待测片上天线上；机器臂设置于光学平台上，机器臂的末端设置有测试探头，测试探头位于待测片上天线的上方，测试探头用于接收待测片上天线发送的第二射频信号。通过本申请中的技术方案，满足了毫米波片上天线方向图测试需求，并使得测试系统具备较强的测试灵活性与运动多样性。 | ||
| 搜索关键词： | 机器 臂片上 天线 测试 系统 | ||
【主权项】：
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