[实用新型]BDU测试装置有效
| 申请号： | 202021137782.0 | 申请日： | 2020-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN212845640U | 公开（公告）日： | 2021-03-30 |
| 发明（设计）人： | 冯士欣;刘扬 | 申请（专利权）人： | 北京迈世高科电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102200 北京市昌平区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种BDU测试装置，包括用于对BDU产品进行测试的BDU测试工装以及用于处理测试信息的上位机，BDU测试工装通过传输线连接上位机；所述BDU测试工装包括用于对BDU‑A产品进行测试的BDU‑A测试工装和用于对BDU‑B产品进行测试的BDU‑B测试工装，BDU‑A测试工装和BDU‑B测试工装均连接在上位机上；所述上位机上设置有用于扫描BDU产品上贴设的产品编号信息码的扫码枪；所述上位机上还设置有用于存储检测信息的存储器。本实用新型将BDU‑A和BDU‑B分别通过对应的工装进行检测，一致性高，检测时间短，提高了检测的效率，同时检测的数据可自动存储，方便后期对产品的数据进行追溯。 | ||
| 搜索关键词： | bdu 测试 装置 | ||
【主权项】：
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