[实用新型]基座及反应腔室有效
申请号: | 202021166900.0 | 申请日: | 2020-06-22 |
公开(公告)号: | CN212322959U | 公开(公告)日: | 2021-01-08 |
发明(设计)人: | 徐刚 | 申请(专利权)人: | 北京北方华创微电子装备有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 北京思创毕升专利事务所 11218 | 代理人: | 孙向民;廉莉莉 |
地址: | 100176 北京市大*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型提供一种基座及反应腔室,基座包括:基座本体,基座本体的上表面开设有多个安装槽;以及多个支撑件,每个支撑件可拆卸地设置于一个安装槽内且支撑件的端部凸出于基座本体的上表面。本实用新型在基座本体的上表面设置安装槽,支撑件可拆卸地设置于安装槽内,可支撑晶圆;当根据工艺要求需要更换不同高度的支撑件或者原有支撑件出现磨损时,可将原有支撑件从安装槽内拆卸,更换合适的或者新的支撑件,从而使基座适应于不同的工艺要求,且降低维护成本。 | ||
搜索关键词: | 基座 反应 | ||
【主权项】:
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造