[实用新型]一种小光斑的光束质量测量分析系统有效

专利信息
申请号: 202021200151.9 申请日: 2020-06-24
公开(公告)号: CN212844019U 公开(公告)日: 2021-03-30
发明(设计)人: 罗华;高斌 申请(专利权)人: 武汉铢寸科技有限公司
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00;G01J1/00;G01J1/04
代理公司: 北京化育知识产权代理有限公司 11833 代理人: 尹均利
地址: 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 实用新型的一种小光斑的光束质量测量分析系统,通过在壳体内置孔径光阑和激光功率探测头,配合在光纤调节装置与孔径光阑之间增设调焦组,通过改变调焦组,可以快速调节孔径光阑与光纤输出之间的相对位置,从而以得到激光束的光束发散角。与现有技术相比较,本实用新型的孔径光阑与光纤调节装置之间位置的改变,无需改变孔径光阑的位置或者是光纤调节装置的物理位置,且其调节仅仅需要通过伺服电机带动调节轮旋转,从而以改变调节盘的转动,实现不同的调焦组处于检测中,调节更加迅速快捷,测量降低人工误差,使其检测更加精确。
搜索关键词: 一种 光斑 光束 质量 测量 分析 系统
【主权项】:
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