[实用新型]一种小光斑的光束质量测量分析系统有效
申请号: | 202021200151.9 | 申请日: | 2020-06-24 |
公开(公告)号: | CN212844019U | 公开(公告)日: | 2021-03-30 |
发明(设计)人: | 罗华;高斌 | 申请(专利权)人: | 武汉铢寸科技有限公司 |
主分类号: | G01J11/00 | 分类号: | G01J11/00;G01J1/00;G01J1/04 |
代理公司: | 北京化育知识产权代理有限公司 11833 | 代理人: | 尹均利 |
地址: | 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本实用新型的一种小光斑的光束质量测量分析系统,通过在壳体内置孔径光阑和激光功率探测头,配合在光纤调节装置与孔径光阑之间增设调焦组,通过改变调焦组,可以快速调节孔径光阑与光纤输出之间的相对位置,从而以得到激光束的光束发散角。与现有技术相比较,本实用新型的孔径光阑与光纤调节装置之间位置的改变,无需改变孔径光阑的位置或者是光纤调节装置的物理位置,且其调节仅仅需要通过伺服电机带动调节轮旋转,从而以改变调节盘的转动,实现不同的调焦组处于检测中,调节更加迅速快捷,测量降低人工误差,使其检测更加精确。 | ||
搜索关键词: | 一种 光斑 光束 质量 测量 分析 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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